寂静回声 发表于 4 天前

ISO 21920取代了多个自1990年代末期沿用至今的旧标准


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2021年12月,ISO发布了全新的表面结构标准ISO 21920《产品几何技术规范(GPS) 表面纹理:轮廓法》(Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile)。
它并非仅针对粗糙度,而是完整覆盖粗糙度轮廓(R 参数)、波纹度轮廓(W 参数)、原始轮廓(P 参数)的术语定义、参数计算、图纸标注与应用规则,表面粗糙度是其最核心的应用场景,因此也被广泛视为新一代的表面粗糙度基础标准。
ISO 1302:2002 仅规定技术图纸上表面纹理的图形符号与标注规则,不涉及参数定义、测量方法或验收规则,是一个纯标注规范。
ISO 21920 是完整的标准体系,该标准分为三个部分,取代了多个自1990年代末期沿用至今的旧标准,包括:
ISO 1302:2002( 解释了如何在图纸上指定表面纹理) → ISO 21920-1
ISO 4287:1997(描述了主要轮廓参数(Ra、Wa 等)) → ISO 21920-2
ISO 4288:1996(解释了如何应用参数和选择截止值) → ISO 21920-3
ISO 3274(描述了测针轮廓仪的基本要求) → ISO 21920
ISO 12179(解释了如何校准测针轮廓仪) → ISO 21920
发布的 ISO 25178 标准确立了新的表面纹理通用标准,其最初针对的是面积表面纹理。如今,将同样的概念应用于轮廓表面纹理并对其进行修订或替换是合理的。ISO TC213 工作组 WG16 决定将现有的型材标准统一为一个由三部分组成的现代标准,称为 ISO 21920。

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ISO 21920 引入了一个新的基准符号,在原有三角形符号的左上方增加了一个小线段。这与面测量符号(ISO 25178-1 中定义的倾斜小正方形)类似,旨在明确标识采用新标准的规范。
ISO 1302 默认采用 16% 验收规则(T16%);
ISO 21920-1 默认改为最大规则(Tmax),要求所有测量值均不超出公差限,判定逻辑更严格也更清晰。
新增轮廓 F 算子、提取方法、轮廓方向、测量截面数量等可标注要素,与 GPS 整体体系对齐。
旧体系参数多基于取样长度平均计算,新标准大部分参数基于评定长度定义,仅峰值类参数基于截面长度。

ISO_21920-1-2021(中英对照)
https://www.doc88.com/p-54168140959572.html
ISO_21920-1-2021(中文版)
https://www.doc88.com/p-54168140959570.html

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